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致新ZX38A-CV半導體C-V特性測試儀 致新ZX38A-CV半導體C-V特性測試儀：使用自動平衡電橋技術及四端對開爾文測試端、測量頻率范圍涵蓋20Hz~2MHz，最小分辨率1mHz，基本測量精度可達0.05%。本儀器還可以測試MOS管的輸入電容Ciss，輸入電阻Rg等參數。同時提供了內置±10VDC電壓源方便客戶測試3端管子。
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2024-11-24
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致新阻抗分析儀ZX8210 30MHz 致新阻抗分析儀ZX8210 30MHz的繪圖功能和LCR表測量功能，其高精度、寬頻率范圍可以滿足元件與材料大部分低壓參數的測量要求，可廣泛應用于諸如電感器、電容器、電阻器、傳聲器、諧振器、液晶顯示器、變容二極管、變壓器等進行阻抗性能的研究分析及生產線QC檢驗。
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2024-11-24
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致新高頻精密阻抗分析儀ZX8590 致新高頻精密阻抗分析儀ZX8590使用自動平衡電橋技術及四端對開爾文測試端、測量頻率范圍涵蓋20Hz~25MHz，最小分辨率1mHz，基本測量精度可達0.05%。
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2024-11-24
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致新超聲阻抗分析儀ZX70A ZX80A (5MHz) 致新超聲阻抗分析儀ZX70A ZX80A (5MHz)主要用于鐵電晶體、壓電陶瓷、壓電晶體、超聲波換能器等器件的阻抗分析與測試，是對壓電器件和設備進行頻率掃描和阻抗測量分析的解決方案，可以快捷方便地測試壓電器件的各項參數特性。
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2024-11-24
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致新超聲阻抗分析儀ZX70A (500kHz) 致新超聲阻抗分析儀ZX70A (500kHz)主要用于鐵電晶體、壓電陶瓷、壓電晶體、超聲波換能器等器件的阻抗分析與測試，是對壓電器件和設備進行頻率掃描和阻抗測量分析的解決方案，可以快捷方便地測試壓電器件的各項參數特性。
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